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材料检测及测量技术

LAwave薄膜杨氏模量无损测量设备

LAwave薄膜杨氏模量无损测量设备,技术源于德国Fraunhofer IWS研究所。利用激光脉冲在薄膜或材料表面激发起表面声波,表面声波在不同材料中的传播速度不同,可以通过检测表面声波的波速实现... ...

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扫描式激光分析仪

SCALA扫描式激光分析仪是用激光入射扫描样品表面,收集反射信号得到样品表面的三维形貌和特征。 ...

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德国Nano analytik原子力显微镜,简易版原子力显微镜

基于对纳米先进技术的理解,Nano analytik公司研制出独特的AFM系统。通用,紧凑,操作非常简单,并适合很多种类的应用。这种新型的初级AFM系统研制的目的是提供一种快速的纳米尺寸的成像,它... ...

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SCALA扫描式激光分析仪

SCALA扫描式激光分析仪是模块式的。包括一个光学扫描器,安装于温度湿度都可控的腔室里。基本配置可实现二维轮廓的静态特征,及通过热噪声和单点测量来确定的谐振频率。 ...

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瑞士Heliotis三维表面形貌仪_高速三维相机

瑞士Heliotis公司多年来致力于开发高速光学三维表面成像技术,独特的智能像素技术让阵列式CMOS探测器上的每一个像素都可以独立锁相、处理像素信息,利用白光干涉原理研发出市面上的超快... ...

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